Viivaskannauslinssin pääparametreihin kuuluvat seuraavat keskeiset indikaattorit:
Resoluutio
Resoluutio on kriittinen parametri arvioitaessa objektiivin kykyä tallentaa hienoja kuvan yksityiskohtia, ja se ilmaistaan tyypillisesti viivapareina millimetriä kohden (lp/mm). Tarkemmat objektiivit voivat tuottaa selkeämpiä kuvantamistuloksia. Esimerkiksi 16K-viivaskannausobjektiivissa voi olla jopa 8 192 vaakapikseliä ja resoluutio 160 lp/mm. Yleisesti ottaen mitä korkeampi resoluutio, sitä pienempi kohde voidaan erottaa, mikä johtaa terävämpiin kuviin.
Pikselikoko
Pikselikoko mitataan mikrometreinä (μm) ja se vaikuttaa suoraan sivuttaisresoluutioon. Se viittaa kennon suurimpaan kokoon tai kuvatason mittoihin, jotka linssi voi peittää. Viivaskannauslinssiä käytettäessä on tärkeää valita sellainen, joka vastaa kameran kennon kokoa, jotta tehokkaat pikselit voidaan hyödyntää täysimääräisesti ja saavuttaa korkealaatuisia kuvia. Esimerkiksi 3,5 μm:n pikselikoon omaava linssi pystyy säilyttämään enemmän yksityiskohtia skannauksen aikana, kun taas 5 μm:n pikselikoko sopii paremmin sovelluksiin, jotka vaativat suurempaa skannausaluetta.
Optinen suurennus
Viivaskannauslinssien optinen suurennus vaihtelee tyypillisesti 0,2x - 2,0x välillä linssin rakenteesta riippuen. Tietyt suurennusarvot, kuten 0,31x - 0,36x, sopivat erilaisiin tarkastustehtäviin.
Polttoväli
Polttoväli määrittää kuvakentän ja kuvausalueen. Kiinteän polttovälin objektiivit vaativat huolellista valintaa työskentelyetäisyyden perusteella, kun taas zoom-objektiivit tarjoavat joustavuutta mahdollistamalla polttovälin säätämisen erilaisten käyttötilanteiden mukaan.
Liitäntätyyppi
Yleisiä objektiiviliitäntöjä ovat C-kiinnitys, CS-kiinnitys, F-kiinnitys ja V-kiinnitys. Näiden on oltava yhteensopivia kameraliitännän kanssa oikean asennuksen ja toiminnan varmistamiseksi. Esimerkiksi F-kiinnityksellä varustettuja objektiiveja käytetään yleisesti teollisuuden tarkastuslaitteissa.
Työskentelyetäisyys
Työskentelyetäisyys tarkoittaa linssin etuosan ja kuvattavan kohteen pinnan välistä etäisyyttä. Tämä parametri vaihtelee huomattavasti eri linssimalleissa, ja se tulisi valita käyttötarkoituksen mukaan. Esimerkiksi skannauspää, jonka enimmäistyöskentelyetäisyys on 500 mm, on ihanteellinen kosketuksettomiin mittaustehtäviin.
Syväterävyys
Syväterävyysalue osoittaa kohteen edessä ja takana olevan etäisyyden, jolla terävä kuva säilyy. Siihen vaikuttavat tyypillisesti tekijät, kuten aukko, polttoväli ja kuvausetäisyys. Esimerkiksi jopa 300 mm:n syväterävyysalue voi varmistaa suuren mittaustarkkuuden.
Suosituksia viivavalotuslinssien valintaan:
1. Selvennä kuvantamisvaatimuksia:Määritä keskeiset parametrit, kuten resoluutio, näkökenttä, suurin kuva-ala ja työskentelyetäisyys, käyttötarkoituksen perusteella. Esimerkiksi tarkkoja viivapyyhkäisylinssejä suositellaan sovelluksiin, jotka vaativat yksityiskohtaista kuvantamista, kun taas laajemman näkökentän omaavat linssit sopivat suurten kohteiden kuvaamiseen.
2. Ymmärrä objektien mitat:Valitse sopiva skannauspituus tutkittavan kohteen koon perusteella.
3. Kuvantamisnopeus:Valitse viivakuvausobjektiivi, joka tukee vaadittua kuvausnopeutta. Suurnopeussovelluksissa tulisi valita objektiivit, jotka pystyvät tukemaan suurta kuvataajuutta.
4. Ympäristöolosuhteet:Ota huomioon ympäristötekijät, kuten lämpötila, kosteus ja pölypitoisuus, ja valitse objektiivi, joka täyttää nämä käyttövaatimukset.
Lisäparametrit, jotka on otettava huomioon:
Konjugaattietäisyys:Tämä viittaa kokonaisetäisyyteen kohteesta linssiin ja linssistä kuvakennoon. Lyhyempi konjugoitu etäisyys johtaa pienempään kuvausalueeseen.
Suhteellinen valaistusvoimakkuus:Tämä parametri edustaa linssin eri alueiden optisen läpäisyn suhdetta. Se vaikuttaa merkittävästi kuvan kirkkauden ja optisen vääristymän tasaisuuteen.
Yhteenvetona voidaan todeta, että sopivan viivakuvauslinssin valinta edellyttää useiden teknisten eritelmien ja sovelluskohtaisten vaatimusten kattavaa arviointia. Sopivimman linssin valitseminen käyttötarkoitukseen parantaa kuvanlaatua ja järjestelmän tehokkuutta, mikä johtaa lopulta optimaaliseen kuvantamistuottokykyyn.
Julkaisuaika: 28.7.2025